人员组成 | 仪器介绍 | 分析方法 | 用户须知 | 联系方式
人员组成:
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林杨挺，实验室主任
博士，研究员。2000年获“国家杰出青年基金”。主要从事陨石学，月球和火星等行星的形成和演化，冲击变质和高压矿物学研究。负责实验室的发展方向把握和运行管理。
Email：LinYT@mail.iggcas.ac.cn
电话：010-82998413
办公地点：新综合办公楼413房间
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杨蔚，实验室成员
博士，副研究员。主要从事岩石地球化学研究。负责实验室测试方法研发及其在地球科学的应用。
Email：yangw@mail.iggcas.ac.cn
电话：010-82998514
办公地点：新综合办公楼514房间
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郝佳龙，实验室成员
硕士，助理工程师，测控技术与仪器专业。主要负责仪器的日常维护、维修及运行，参与测试方法研发。
Email：sean_hao@mail.iggcas.ac.cn
电话：010-82998247
办公地点：新综合办公楼247房间
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张建超，实验室成员
硕士，助理工程师，测控技术与仪器专业。主要负责仪器的日常维护、维修及运行，参与测试方法研发。
Email：zhangjc850206@126.com
电话：010-82998651
办公地点：新综合办公楼247房间
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胡森，博士后
博士，比较行星学。主要研究兴趣：（1）太阳风和微陨石等太空营力影响天体光谱的机制以及天体光谱的解译；（2）陨石的H同位素和水含量分析。
Email：husen@mail.iggcas.ac.cn
电话：010-82998086
办公地点：旧办公楼231房间
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冯璐，博士后
博士，地球化学专业。主要研究陨石中的冲击变质效应，以及微量元素在高温高压矿物中的分布。
Email：fenglu@mail.iggcas.ac.cn
电话：010-82998086
办公地点：旧办公楼231房间
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赵旭晁，在读博士
博士研究生，天体化学专业。研究方向及兴趣：陨石中的同位素异常及太阳系外物质。
Email：xzhao@mail.iggcas.ac.cn
电话：010-82998444
办公地点：新综合办公楼444
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仪器介绍：
我所的Cameca NanoSIMS 50L型纳米离子探针于2010年12月引进，2011年3月通过验收，开始试运行，它是目前我国唯一的一台纳米离子探针。
工作原理:
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Cameca NanoSIMS 50L型二次离子探针质谱仪与传统的二次离子探针质谱仪（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）的工作原理类似。左图为NanoSIMS 50L的离子光学示意图。它首先将离子源（Ion Sources）产生的一次离子，加速形成能量为1-20KeV的一次离子束（Primary Ion Beam），接着用一次离子束照射固体样品（Sample）表面，激发（溅射）出正、负二次离子（Secondary Ion Beam），再利用磁场（Magnet）分离具有不同质荷比的二次离子，然后用法拉第杯（FC）或电子倍增器（EM）测量它们的强度，最后通过测量值计算固体表面所含元素及同位素的丰度。 |
Cameca NanoSIMS 50L型纳米离子探针相比于传统的离子探针具有较高的灵敏度和极高的空间分辨率，这主要得益于Cameca公司对NanoSIMS 50L型纳米离子探针所做的改进。把原来的一次离子倾斜入射改成垂直入射，并使一次离子流和二次离子流共同使用一套共轴透镜系统（见下图）。一次离子流垂直入射可达到缩小束斑直径（即提高空间分辨率），增加离子束亮度，减小仪器扫描成像失真度的目的。使用共轴透镜系统大大缩短了接收二次离子的浸没透镜与样品表面间的距离，进而显著提高二次离子流的接收效率以及仪器的灵敏度。
重要特点：
1.高空间分辨率。铯离子源状态下，一次束离子束斑小于50纳米；氧离子源状态下，一次束离子束斑小于200纳米。
2.高传输效率。在质量分辨率为6000时，二次离子传输效率>55%；在质量分辨率为9000时，二次离子传输效率>20%。
3.极高的灵敏度。在亚微米区域内可获得微量级灵敏度。
4.多接收器。有7个平行的质量分析器，可同时分析7种元素或同位素。同时测量的最大元素与最小元素的质量比可达到22，即Mmax/Mmin = 22。
分析方法：
Cameca NanoSIMS 50L型二次离子探针质谱仪能够对天然矿物、固体材料或生物组织的微区或微小颗粒，进行原位的同位素和微量元素分析，并能对一微区内元素和同位素的分布进行扫描成像。目前，在国际上NanoSIMS已被广泛应用于比较行星学、地球科学、材料科学和生物医学研究中。本所的NanoSIMS 50L型纳米离子探针已经开发出如下分析方法：
（1）高空间分辨同位素分布图像，主要应用于生物样品和地外样品。
（2）微量元素分布图像，主要应用于生物样品，材料样品和地球深部样品。
（3）原位H同位素和水含量测定，主要应用于地外样品和地球深部样品。
（4）微细U-Th矿物的原位U-Pb，Pb-Pb同位素定年。
（5）原位稀土等微量元素分析。
用户须知：
《纳米离子探针样品制备说明》
联系方式：
通讯地址：北京市朝阳区北土城西路19号，建德桥东100米，中国科学院地质与地球物理研究所，综合办公楼149室。
联系电话：86-10-82998651
